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Günter-Köhler-Institut für Fügetechnik und Werkstoffprüfung GmbH
Abteilung amt/Mikrotechnik
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Beschleunigungssensorchips

Beschreibung

In der Abteilung amt/Mikrotechnik werden mikromechanische Beschleunigungssensorelemente entwickelt und hergestellt. Als Standardmessbereiche sind 0..2g und 0..50g verfügbar. Elemente mit anderen Messbereichen können auf Anfrage geliefert werden. Die Sensorelemente zeichnen sich durch hohe Linearität und Messgenauigkeit aus.

Die Wandlerelemente sind nach dem Differentialkondensatorprinzip in einer Sandwichbauweise Glas-Silizium-Glas ausgeführt. Die Mittelelektrode aus Silizium ist beweglich und bildet mit zwei symmetrisch angeordneten starren Gegenelektroden zwei Kondensatoren. Bei einer Beschleunigung ändern sich die Kapazitäten beider Kondensatoren gegensinnig um den gleichen Betrag.
Diese Kapazitätsänderung kann durch eine nachfolgende Auswerteelektronik z. B. in ein Spannungssignal oder ein pulsmoduliertes Signal umgewandelt werden.

Die Si-Wafer und die Glassubstrate werden komplett am ifw prozessiert
(Beschichtung, Fotolithografie, Metallisierung, Bonden, Vereinzeln der Chips).

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